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高分辨场发射透射电子显微镜

发布日期:2019-11-30  来源:   点击量:

仪器型号:JEM-2100F

生产厂家:日本电子JEOL

主要技术指标:

加速电压:200 KV

分辨率:线分辨率0.10 nm,点分辨率0.19 nm

放大倍数:400 ~1.5M

样品最大倾角:±25

主要功能及应用领域

高分辨透射电镜(HRTEM)广泛应用于纳米材料、催化剂、高分子材料、金属材料、半导体材料、地质矿物、生物医药等方面,可进行低倍形貌观察、高分辨成像。材料晶体结构类型(选区电子衍射),配合能谱仪(EDS)可实现成份含量测定。

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